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會議主題: 材料及礦物前處理技術
會議時間: 2014年12月22日 14:30-16:30
主講人: 何廣磊 培安公司材料分析制備產品
會議介紹: 隨著XRF、IR、AA、ICP等終端檢測儀器在自動化、模塊化方面的進步，材料元素檢測越來越，誤差也越來越小，終端儀器已不再是檢測誤差產生的關鍵。越來越多的事實證明，分析的誤差主要來自于樣品前處理。材料及礦物樣品的采樣和制樣技術，對分析實驗結果有著更大的影響，本文將從研磨、球磨到壓片和熔片等材料樣品前處理技術進行講解，通過對各種研磨、壓片、熔片原理和技術進行比較，談一談如何能使我們更快的得到更、更均勻，符合我們實驗要求的樣品。
現(xiàn)場還有答疑和討論時間，為大家提供與資深工程師進一步交流的機會。
網絡報名地址: www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1275
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